3.1.1.7 校驗(yàn)時(shí)，一個(gè)線圈的線/覽的最大數(shù)量：
初級(jí)標(biāo)準(zhǔn)傳感器——200英尺（60米）
其他貴金屬傳感器——2000英尺（610米）
賤金屬次級(jí)標(biāo)準(zhǔn)傳感器——2000英尺（610米）
所有的其他賤金屬傳感器——5000英尺（1525米）
3.1.1.8 對(duì)K型和E型熱電偶的再次使用，在超過(guò)500℉（260℃）時(shí)，其插入的深度應(yīng)等于或大于以往任何使用時(shí)插入的深度。
3.1.1.9 除非絕緣物保持完整，并且線包括熱端沒(méi)有損壞，否則不能再次使用熱電偶。如果缺少部分（包括K型和E型熱電偶暴露在500℉（260℃）以上的部分）被修整掉，熱端被重新制作，電偶重新校驗(yàn)，損壞的電偶可以挽救。如果挽救的電偶來(lái)源于線圈，原始線圈的校驗(yàn)可以代替重新校驗(yàn)。在挽救之前的使用次數(shù)應(yīng)包括在總的熱電偶的使用次數(shù)之內(nèi)。
3.1.1.10 禁止對(duì)任何一次性賤金屬測(cè)試電偶（SAT或TUS）重新校驗(yàn)。允許重新使用，只要下面的公式”U”不超過(guò)30。對(duì)測(cè)試電偶一次使用定義為加熱和冷卻的一個(gè)循環(huán)。U=1200℉（650℃）以下使用的次數(shù)+2倍在1200℉（650℃）與1800℉（980℃）之間的使用次數(shù)。一次性的賤金屬測(cè)試電偶應(yīng)在1800℉（980℃）以上限于使用一次。
3.1.1.11 在500℉（260℃）以下使用的非一次性的賤金屬K型和E型熱電偶、J型、N型和所有貴金屬測(cè)試電偶（SAT或TUS）的校驗(yàn)應(yīng)按表1。