AMS-2750D這是美國(guó)宇航材料生產(chǎn)和試驗(yàn)中對(duì)加熱爐(含高溫烘箱等加熱設(shè)備)的溫度精確度和溫度均勻度測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)國(guó)內(nèi)相關(guān)烘箱及其他加熱爐的設(shè)計(jì)制造具有參考作用。以下是該標(biāo)準(zhǔn)的部分內(nèi)容。
AMS 2750D高溫測(cè)定
3.1.2參考標(biāo)準(zhǔn)傳感器應(yīng)符合表1。
3.1.2.1 應(yīng)使用參考標(biāo)準(zhǔn)傳感器和初級(jí)標(biāo)準(zhǔn)儀器校驗(yàn)初級(jí)標(biāo)準(zhǔn)傳感器。
3.1.3 初級(jí)標(biāo)準(zhǔn)傳感器應(yīng)符合表1。
3.1.3.1 應(yīng)使用初級(jí)標(biāo)準(zhǔn)傳感器和初級(jí)標(biāo)準(zhǔn)儀器校驗(yàn)次級(jí)標(biāo)準(zhǔn)傳感器。
3.1.4 次級(jí)標(biāo)準(zhǔn)傳感器用符合表1。
3.1.4.1 僅限于對(duì)溫度均勻性、系統(tǒng)精度、控制、監(jiān)控、記錄和負(fù)載傳感器的校驗(yàn)。
3.1.5 高溫烘箱/加熱爐溫度均勻性傳感器應(yīng)符合表1。
3.1.5.1 除了3.1.5.2的規(guī)定外，溫度均勻性檢測(cè)傳感器應(yīng)用初級(jí)或次級(jí)標(biāo)準(zhǔn)儀器和一個(gè)初級(jí)或次級(jí)標(biāo)準(zhǔn)傳感器按表1進(jìn)行校驗(yàn)。對(duì)熱電偶的再次使用的限制見(jiàn)3.1.1.8和3.1.1.9。禁止對(duì)暴露在500℉（260℃）以上溫度的K型和E型熱電偶重新校驗(yàn)。
3.1.5.2 那些在測(cè)試中或在測(cè)試間保留在一個(gè)架子上并被保護(hù)（1）僅在1200℉（650℃）以下使用，（2）被標(biāo)識(shí)，（3）儲(chǔ)存/防護(hù)以避免損傷（例如卷曲、過(guò)度的潮氣接觸、腐蝕等）的一次性賤金屬TUS電偶，可以在3.1.1.9和3.1.1.10的限制內(nèi)再次使用。裝在架子上并僅在1200℉（650℃）以下使用的非一次性賤金屬TUS電偶，其使用不超過(guò)90次或3年，以先到的為準(zhǔn)。
3.1.6? 系統(tǒng)精度測(cè)試傳感器應(yīng)符合表1。
3.1.6.1 SAT傳感器應(yīng)用初級(jí)或次級(jí)標(biāo)準(zhǔn)儀器和一個(gè)初級(jí)或次級(jí)標(biāo)準(zhǔn)傳感器按表1進(jìn)行校驗(yàn)。對(duì)熱電偶的再次使用的限制見(jiàn)3.1.1.8、3.1.1.9和3.1.1.10。禁止對(duì)暴露在500℉（260℃）以上溫度的K型和E型熱電偶重新校驗(yàn)。
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